CASW-62G復(fù)合開關(guān)缺點(diǎn)
(1)實(shí)際運(yùn)行情況已經(jīng)表明了復(fù)合開關(guān)的故障率相當(dāng)高。
(2)由于采用了可控硅等電子元器件其結(jié)構(gòu)復(fù)雜成本上升，與交流接觸器在價(jià)格上難以相比。
(3 )復(fù)合開關(guān)的過零是由電壓過零型光耦檢測(cè)控制的，從微觀上看它并不是真正意義上的過零投切，而是在觸發(fā)電壓低于16V~40V時(shí)（相當(dāng)于2～5電度）導(dǎo)通，因而仍有一點(diǎn)涌流。
(4)復(fù)合開關(guān)技術(shù)既使用可控硅又使用繼電器，于是結(jié)構(gòu)就變得相當(dāng)復(fù)雜，并且由于可控硅對(duì)dvldt的敏感性也比較容易損壞。
由上述分析比較可見，各種電容器投切開關(guān)并非十分完美，有必要進(jìn)一步研究開發(fā)出一種更為理想的電容器過零投切開關(guān)。
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